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锂离子电池保护 IC

发布时间2024-8-23 17:55:00
摘要

Nisshinbo Micro Devices 的锂离子电池保护 IC 非常适合高侧 N 沟道 MOSFET 和温度监控

R5449Z 单节锂离子/聚合物电池保护 IC 提供过充、过放电、放电/充电过流和温度检测电路。该 IC 可驱动外部高端 N 沟道 MOSFET,提供过充和过流的高精度检测以及 0 V 电池的高精度充电抑制。R5449 IC 可以在检测到过放电后通过关闭内部电路将电源电流降至最低。附加的 CTL 引脚可以强制 IC 进入待机模式。

特性

绝对最大额定值:6.5 V

正常模式供电电流:5.0 μA(典型值)

待机电流:最大 0.04 μA

封装:WLCSP-8-P8(1.50 毫米 x 1.08 毫米 x 0.34 毫米)

探测器可选范围和精度:

过充电检测电压:4.2 V 至 4.6 V(步长 0.005 V,±10 mV)

过放电检测电压 (VDET2):2.0 V 至 3.4 V(步长 0.005 V,±35 mV)

放电过流检测电压 (VDET3):0.012 V 至 0.150 V(步长 0.001 V)

充电过流检测电压:-0.150 V 至 -0.012 V(步长 0.001 V)

短路检测电压 (VSHORT):0.032 V 至 0.200 V(步长 0.005 V,±3 mV)

VSHORT 可配置范围取决于 VDET3 的设定值

0 V 电池充电抑制电压:1.25 V 至 2.00 V(步长 0.05 V,±50 mV)

热检测温度:+40°C 至 +85°C(步长 +5°C,±3°C)

内部固定输出延迟时间:

过充检测延迟时间:1024 ms/2048 ms/3072 ms/4096 ms

过放电检测延迟时间:16 ms/32 ms/128 ms

放电过流检测延迟时间:32ms/128ms/256ms/512ms/1024ms

短路检测延迟时间:280 μs

充电过流检测延迟时间:8 ms

热检测延迟时间:128 ms/512 ms/1024 ms/4096 ms

可选功能:

充电过流检测:启用/禁用

0 V 电池充电:禁止

过流检测:高端(RSENS 至 V+)

热保护:充电和放电电流

外部 NTC 热敏电阻:100kΩ/470kΩ

温度监测周期:

无感时间 (TTNS):90 ms/528 ms/1040 ms

检测时间 (TTS):10 ms

电流检测:电阻/FET

应用

电池组锂离子保护 IC

智能手机

电子产品

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